作為XradiaVersa系列中的前沿產品，蔡司X射線顯微鏡Xradia610&620&630Versa在科學探索和工業研究領域為您開啟了多樣化應用的新高度。
詳細介紹
作為XradiaVersa系列中的前沿產品，蔡司X射線顯微鏡Xradia610&620&630Versa在科學探索和工業研究領域為您開啟了多樣化應用的新高度。
蔡司X射線顯微鏡采用光學和幾何兩級放大成像架構，可實現大樣品高分辨率成像。閃爍體和光學物鏡耦合技術可實現高襯度和增強的相位襯度成像。基于出色的高分辨率和襯度，蔡司X射線顯微鏡Xradia610&620&630Versa拓展了無損成像的研究界限，大大提高了研究靈活性，加快您的研究進展。創新的數據采集工作流讓您無需對樣品進行切割即可實現對搜索和發現的感興趣區域進行高分辨成像，實現從探索到發現的工作流無縫銜接。全系列的XradiaVersa系統都兼容ART3.0高級重構工具箱，利用AI技術提高成像效率或改善成像質量。
[產品特點]
ü三維無損成像
ü真實空間分辨率:500nm@Xradia610&620Versa,450nm@Xradia630Versa，最小體素40nm
ü更快的成像速度
ü大工作距離下高分辨率，可實現不同類型、尺寸和類型樣品多尺度成像
ü吸收、相位和衍射襯度成像模式
ü4D原位成像能力
ü可升級和拓展
[應用領域]
ü材料科學，如三維無損分析
ü生命科學，如微觀結構成像
ü地球科學，如地質、油氣、礦產、古生物等三維成像
ü電子和半導體行業，如形貌測量及失效分析
ü原位力學、變溫試驗
ü衍射襯度成像，實現三維晶粒取向分析
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