X射線無損測厚儀性能特點

X射線無損測厚儀是一款應用廣泛的能量色散型X射線熒光光譜儀，使用大鈹窗超薄窗口高分辨率的SDD探測器，其探測器分辨率為139eV，處于先J水平；產品采用上照式設計，多重防輻射保護裝置以及X射線發生器，使輻射劑量符合國際規定；樣品觀察系統采用CCDS像頭、數字多道分析器、激光定位以及自主研發的測厚分析軟件，各項指標均符合相關技術要求，技術達先J水平。

該款儀器專為電子半導體、五金電鍍、印刷線路板、首飾手表、檢測機構等行業的儀器。XYZ三個可調節方向、全面的樣品觀察系統和激光定位使得檢測更方便。大的測試內部空間，較好的散熱效果和抗電磁干擾能力，模塊化的結構設計使安裝、調試、維護更方便，可適應惡劣工作環境。

性能特點：

1、滿足各種不同厚度樣品以及不規則表面樣品的測試需求；

2、φ0.1mm的小孔準直器可以滿足微小測試點的需求；

3、高精度移動平臺可定位測試點，重復定位精度小于0.005mm；

4、采用高度定位激光，可自動定位測試高度；

5、定位激光確定定位光斑，確B測試點與光斑對齊；

6、鼠標可控制移動平臺，鼠標點J的位置就是被測點；

7、高分辨率探頭使分析結果更加；

8、較好的射線屏蔽作用；

9、測試口高度敏感性傳感器保護。

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